Attolight作為生產(chǎn)高科技設(shè)備-陰極熒光掃描電鏡的世界頂尖公司，應(yīng)邀參加國際顯示盛會Display Week 2021 (2021年5月17日至21日)。本屆顯示行業(yè)的會議聚集了OLED、MicroLED、AR/VR/MR、打印顯示器等領(lǐng)域的國際專家及在此行業(yè)最有影響力的公司。在此情形下，Attolight行業(yè)應(yīng)用主管Matthew Davies將應(yīng)邀在“Micro LED DisplayMetrology”會議期間做一個精彩演講。以下為他的演講摘要：

演講主題：大量生產(chǎn)μled的成本效益探測

演講人：Mattheu Davies, Attolight AG-Switzerland 

主要內(nèi)容：大量生產(chǎn)的μled帶來了一系列新的挑戰(zhàn)，這些挑戰(zhàn)與每個晶圓器件數(shù)量和密度的大幅增加有關(guān)，特別是在測量時間、空間分辨率和晶圓吞吐量方面。在這里，我們?yōu)?/span>μled的晶圓電平測量提供了一種成本適當(dāng)?shù)奶綔y解決方案，專門設(shè)計用于解決后前端設(shè)備驗證的需求。

歡迎感興趣的同仁參加他在5月20日(周四)下午的演講。

想了解更多，請登錄會議網(wǎng)站（http://www.displayweek.org/）

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