Allalin平臺包括廣泛的分析SEM工具，如陰極發(fā)光(CL)，光致發(fā)光(PL)，時(shí)間分辨CL和PL，以及電子束感應電流(EBIC)分析。新推出的納米探測解決方案通過(guò)在低至幾納米的尺度上添加電氣表征、驅動(dòng)和納米操作來(lái)擴展這些功能。
由于樣品和極片之間的間隙，以及集成在SEM柱中的獨特光學(xué)收集系統，Imina Technologies的miBots?緊湊而堅固，可以無(wú)縫集成到Allalin平臺中。因此，SEM和CL掃描的質(zhì)量和速度與所有Allalin系統一樣高。
首個(gè)Allalin-miBots?平臺已成功安裝于香港大學(xué)崔教授實(shí)驗室。這種獨特的實(shí)現將使團隊能夠同時(shí)進(jìn)行原位SEM，陰極發(fā)光和電氣器件表征，從而更深入地了解半導體材料的特性。
“我們非常自豪能夠提供這一獨一無(wú)二的解決方案，與Attolight合作是一次絕佳的體驗。Allalin集成了miBots，旨在為各種材料的基本特性提供更深入的見(jiàn)解，我相信它將有助于推動(dòng)材料科學(xué)和半導體研究的發(fā)展。我期待著(zhù)第一個(gè)結果，并部署更多這些先進(jìn)的系統?！狪mina Technologies的聯(lián)合創(chuàng )始人紀堯姆·博奇(Guillaume Boetsch)說(shuō)。
“Imina Solutions以其高質(zhì)量的納米探測技術(shù)而聞名，我們很高興在A(yíng)llalin平臺上引入這一新功能。研究人員將受益于為先進(jìn)半導體和材料研究量身定制的獨特實(shí)現。我們已經(jīng)收到了這次整合的新訂單，并熱切期待第一批結果，”atolight AG分析銷(xiāo)售主管Nicolas Medard說(shuō)。
在A(yíng)llalin平臺上找到更多信息:https://attolight.com/allalin/
了解更多有關(guān)Imina Technologies解決方案的信息:https://imina.ch/en/products/nano-robotics-solutions-electron-microscopes
