Allalin平臺(tái)包括廣泛的分析SEM工具，如陰極發(fā)光(CL)，光致發(fā)光(PL)，時(shí)間分辨CL和PL，以及電子束感應(yīng)電流(EBIC)分析。新推出的納米探測(cè)解決方案通過在低至幾納米的尺度上添加電氣表征、驅(qū)動(dòng)和納米操作來擴(kuò)展這些功能。
由于樣品和極片之間的間隙，以及集成在SEM柱中的獨(dú)特光學(xué)收集系統(tǒng)，Imina Technologies的miBots?緊湊而堅(jiān)固，可以無縫集成到Allalin平臺(tái)中。因此，SEM和CL掃描的質(zhì)量和速度與所有Allalin系統(tǒng)一樣高。
首個(gè)Allalin-miBots?平臺(tái)已成功安裝于香港大學(xué)崔教授實(shí)驗(yàn)室。這種獨(dú)特的實(shí)現(xiàn)將使團(tuán)隊(duì)能夠同時(shí)進(jìn)行原位SEM，陰極發(fā)光和電氣器件表征，從而更深入地了解半導(dǎo)體材料的特性。
“我們非常自豪能夠提供這一獨(dú)一無二的解決方案，與Attolight合作是一次絕佳的體驗(yàn)。Allalin集成了miBots，旨在為各種材料的基本特性提供更深入的見解，我相信它將有助于推動(dòng)材料科學(xué)和半導(dǎo)體研究的發(fā)展。我期待著第一個(gè)結(jié)果，并部署更多這些先進(jìn)的系統(tǒng)。——Imina Technologies的聯(lián)合創(chuàng)始人紀(jì)堯姆·博奇(Guillaume Boetsch)說。
“Imina Solutions以其高質(zhì)量的納米探測(cè)技術(shù)而聞名，我們很高興在Allalin平臺(tái)上引入這一新功能。研究人員將受益于為先進(jìn)半導(dǎo)體和材料研究量身定制的獨(dú)特實(shí)現(xiàn)。我們已經(jīng)收到了這次整合的新訂單，并熱切期待第一批結(jié)果，”atolight AG分析銷售主管Nicolas Medard說。
在Allalin平臺(tái)上找到更多信息:https://attolight.com/allalin/
了解更多有關(guān)Imina Technologies解決方案的信息:https://imina.ch/en/products/nano-robotics-solutions-electron-microscopes
