M?nch是Attolight公司研發(fā)的一個獨(dú)特的附加組件，用于在STEM中收集或注入光線。在剛剛發(fā)表在《科學(xué)》雜志上的一篇論文中，M?nch檢測納米級分離顆粒發(fā)光的能力證明了低發(fā)射樣品的收集效率。這種獨(dú)特的特性是由于大的數(shù)值孔徑，但也非常短的工作距離，使光學(xué)收集效率優(yōu)化。

與白熾燈相比，基于LED(發(fā)光二極管)的照明由于其效率的提高，導(dǎo)致了能源消耗的大幅減少。這是由于在20世紀(jì)90年代新材料的發(fā)展和改進(jìn)，特別是III-N半導(dǎo)體家族。盡管如此，新材料的發(fā)現(xiàn)仍能帶來很多收獲，包括機(jī)械性能的改善。最近，由于光電、發(fā)光二極管、輻射探測和測溫等領(lǐng)域的技術(shù)進(jìn)步，由CsPbX3 (X a鹵化物，如I、Cl、Br)組成的鹵化鉛鈣鈦礦(LHPs)吸引了科學(xué)界的高度關(guān)注。它們應(yīng)用的一個關(guān)鍵限制是它們的長期穩(wěn)定性和所需的晶體結(jié)構(gòu)(控制它們的電子和光學(xué)行為)的生產(chǎn)。

在《科學(xué)》雜志(DOI: 10.1126/ Science .abf4460)上發(fā)表的一篇文章中，澳大利亞昆士蘭大學(xué)的侯景偉和合作者報道了一種由金屬有機(jī)框架(MOFs)嵌入和保護(hù)的lhp納米顆粒制成的新型復(fù)合材料。由于復(fù)合材料含有納米級顆粒，需要用顯微技術(shù)來識別顆粒，并證明它們是否在發(fā)光過程背后。

該復(fù)合材料產(chǎn)生明亮而高效的光致發(fā)光(圖1)。納米級電子衍射和光譜顯示，CsPbX3確實(shí)以納米粒子的形式出現(xiàn)在復(fù)合材料中(圖1)。在AttolightM?nch系統(tǒng)的支持下，該合作項目顯示了從分離的顆粒(<40 nm)中檢測到的強(qiáng)發(fā)光(圖像左下)。復(fù)合材料的光譜(圖像右下)非常清晰，這意味著粒子間發(fā)射的波長變化非常小。

這一發(fā)現(xiàn)將使玻璃屏幕的制造成為可能，既能顯示更高的機(jī)械強(qiáng)度，又能提供水晶般清晰的圖像質(zhì)量。它的發(fā)現(xiàn)是鈣鈦礦納米晶體技術(shù)向前邁出的一大步，因?yàn)殁}鈦礦本身對環(huán)境條件非常敏感，包括暴露在空氣、濕度和光線下，研究人員只能在實(shí)驗(yàn)室極其干燥的環(huán)境中生產(chǎn)這項技術(shù)。

Ps:混合鹵化鉛鈣鈦礦和金屬有機(jī)骨架復(fù)合材料顯示出顯著的穩(wěn)定性和發(fā)光效率(左上)。掃描透射電子顯微鏡(STEM)的納米級電子衍射允許人們識別單個CsPbX3納米晶體的相(右上角)。最后，STEM上的陰極發(fā)光(CL)表明光來自單個納米晶體(左下)，它們的發(fā)射光譜(右下)非常相似。